X射線探傷儀檢驗規程

X射線探傷簡介  

射線探傷是利用射線可以穿透物質和在物質中有衰減的特性來發現其中缺陷的一種無損探傷方法。它可以檢查金屬和非金屬材料及其制品的內部缺陷，如焊縫中的氣孔、夾渣、未焊透等體積性缺陷。這種無損探傷方法有*的*性，即檢驗缺陷的直觀性、準確性和可靠性，而且，得到的射線底片可用于缺陷的分析和作為質量憑證存檔。但此法也存在著設備較復雜、成本較高的缺點，并需要對射線進行防護。    

X射線的產生  

用來產生X射線的裝置是X射線管。它由陰極、陽極和真空玻璃（或金屬陶瓷）外殼組成，其簡單結構和工作原理如圖1所示。陰極通以電流加熱至白熾狀態時，其陽極周圍形成電子云，當在陽極與陰極間施加高壓時，電子加速穿過真空空間，高速運動的電子束集中轟擊陽極靶子的一個面積（幾平方毫米左右、稱實際焦點），電子被阻擋減速和吸收，其部分動能（約1%）轉換為X射線,其余99%以上的能量變成熱能。

X射線的主要性質 

•不可見，以光速直線傳播。 

•具有可穿透可見光不能穿透的物質如骨骼、金屬等的能力，并且在物質中有衰減的特性。 •可以使物質電離，能使膠片感光，亦能使某些物質產生熒光。   

γ射線的產生及性質 

γ射線是由放射性物質（60Co、192Ir等）內部原子核的衰變過程產生的。 

γ射線的性質與X射線相似，由于其波長比X射線短，因而射線能量高，具有更大的穿透力。例如，目前廣泛使用的γ射線源60Co，它可以檢查250mm厚的銅質工件、350mm厚的鋁制工件和300mm厚的鋼制工件。   

射線與物質的相互作用 

當射線穿透物質時，由于物質對射線有吸收和散射作用，從而引起射線能量的衰減。 射線在物質中的衰減是呈負指數規律變化的，以強度為I0的一束平行射線束穿過厚度為δ的物質為例，穿過物質后的射線強度為： 

I=I0e－μδ 

式中： 

I：射線透過厚度δ的物質的射線強度； I0：射線的初始強度；