X射線衍射儀可滿足不同測試目的需要

　　
　　
　　X射線衍射儀可實現無損的物相定性和定量分析，而且利用衍射峰位、衍射峰強度、衍射峰線形等信息可以進行材料晶體結構的表征，如：點陣常數的精密測定，晶粒尺寸和微觀應變計算，宏觀殘余應力測定,結晶度計算等；X射線衍射分析方法是材料微觀結構表征zui常規和zui有效的方法之一
　　
　　X射線衍射儀采用單片機控制技術，模塊化設計，使高壓發生器部分控制、穩定、自動化程度高，高壓的開關及升降、光閘的開關均由計算機終端控制。為了使儀器自動化程度更高、性能更穩定，我們研制了高頻高壓X射線發生器。該產品采用高頻高壓技術，*拋棄以往的倍壓整流模式，體積小、重量輕且故障率極低。
　　
　　X射線衍射儀是為材料研究和工業產品分析設計的，是常規分析與特殊目的測量相結合的完善產品。
　　
　　◆硬件系統和軟件系統的結合，滿足不同應用領域學者、科研者的需要
　　
　　◆高精度的衍射角度測量系統，獲取更準確的測量結果
　　
　　◆高穩定性的X射線發生器控制系統，得到更穩定的重復測量精度
　　
　　◆各種功能附件滿足不同測試目的需要
　　
　　◆程序化操作、一體化結構設計，操作簡便、儀器外型更美觀
　　
　　X射線衍射儀是揭示材料晶體結構和化學信息的一種通用性測試儀器：
　　
　　◆未知樣品中一種和多種物相鑒定
　　
　　◆混合樣品中已知相定量分析
　　
　　◆晶體結構解析（Rietveld結構分析）
　　
　　◆非常規條件下晶體結構變化（高溫、低溫條件下）
　　
　　◆薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度
　　
　　◆微區樣品的分析
　　
　　◆金屬材料織構、應力分析